用于高功率多单管光纤耦合半导体激光器老化测试,筛选早期失效产品
用于高功率多单管光纤耦合半导体激光器正常寿命或者加速寿命测试,评估产品寿命
系统保护全面,高安全性、高可靠性
实时监控老化或者寿命过程中的各项参数,并将参数自动保存至数据库
兼容CW和QCW两种工作模式
技术指标
应用领域
半导体激光器测试/老化/自动化
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